金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李野 ; 但唐仁 ; 高延军 ; 程轶 ; 姜得龙 ; 田景全 |
| 刊名 | 红外技术
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| 出版日期 | 2002-06-30 |
| 期号 | 03页码:31-33+37 |
| 关键词 | 微通道板 电子增益 UV光电法 UV透过率 |
| 公开日期 | 2013-03-11 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/28526]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李野,但唐仁,高延军,等. 金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究[J]. 红外技术,2002(03):31-33+37. |
| APA | 李野,但唐仁,高延军,程轶,姜得龙,&田景全.(2002).金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究.红外技术(03),31-33+37. |
| MLA | 李野,et al."金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究".红外技术 .03(2002):31-33+37. |
入库方式： OAI收割
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