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金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究

文献类型:期刊论文

作者李野 ; 但唐仁 ; 高延军 ; 程轶 ; 姜得龙 ; 田景全
刊名红外技术
出版日期2002-06-30
期号03页码:31-33+37
关键词微通道板 电子增益 UV光电法 UV透过率
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/28526]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
李野,但唐仁,高延军,等. 金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究[J]. 红外技术,2002(03):31-33+37.
APA 李野,但唐仁,高延军,程轶,姜得龙,&田景全.(2002).金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究.红外技术(03),31-33+37.
MLA 李野,et al."金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究".红外技术 .03(2002):31-33+37.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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