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用微区光学方法研究GaP:ZnO红光外延片

文献类型:期刊论文

作者骆永石
刊名半导体技术
出版日期2001-03-03
期号03页码:59-61
关键词微区光学方法 检测 外延片
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/28574]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
骆永石. 用微区光学方法研究GaP:ZnO红光外延片[J]. 半导体技术,2001(03):59-61.
APA 骆永石.(2001).用微区光学方法研究GaP:ZnO红光外延片.半导体技术(03),59-61.
MLA 骆永石."用微区光学方法研究GaP:ZnO红光外延片".半导体技术 .03(2001):59-61.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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