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基于单片机的多功能电路测试平台

文献类型:期刊论文

作者吴平 ; 刘建 ; 郑喜凤 ; 丁铁夫
刊名电子工程师
出版日期2004-01-15
期号01页码:17-19
关键词单片机 AT89C51 集成电路测试
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/28800]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
吴平,刘建,郑喜凤,等. 基于单片机的多功能电路测试平台[J]. 电子工程师,2004(01):17-19.
APA 吴平,刘建,郑喜凤,&丁铁夫.(2004).基于单片机的多功能电路测试平台.电子工程师(01),17-19.
MLA 吴平,et al."基于单片机的多功能电路测试平台".电子工程师 .01(2004):17-19.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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