基于单片机的多功能电路测试平台
文献类型:期刊论文
作者 | 吴平 ; 刘建 ; 郑喜凤 ; 丁铁夫 |
刊名 | 电子工程师
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出版日期 | 2004-01-15 |
期号 | 01页码:17-19 |
关键词 | 单片机 AT89C51 集成电路测试 |
公开日期 | 2013-03-11 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/28800] ![]() |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴平,刘建,郑喜凤,等. 基于单片机的多功能电路测试平台[J]. 电子工程师,2004(01):17-19. |
APA | 吴平,刘建,郑喜凤,&丁铁夫.(2004).基于单片机的多功能电路测试平台.电子工程师(01),17-19. |
MLA | 吴平,et al."基于单片机的多功能电路测试平台".电子工程师 .01(2004):17-19. |
入库方式: OAI收割
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