中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
CCD像面旋转引起的脱靶量误差及检测方法

文献类型:期刊论文

作者龙华伟 ; 沈湘衡 ; 马军
刊名光学精密工程
出版日期2003-12-25
期号06页码:607-611
关键词脱靶量 误差修正 CCD传感器 像面 检测方法
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/29227]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
龙华伟,沈湘衡,马军. CCD像面旋转引起的脱靶量误差及检测方法[J]. 光学精密工程,2003(06):607-611.
APA 龙华伟,沈湘衡,&马军.(2003).CCD像面旋转引起的脱靶量误差及检测方法.光学精密工程(06),607-611.
MLA 龙华伟,et al."CCD像面旋转引起的脱靶量误差及检测方法".光学精密工程 .06(2003):607-611.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。