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用于测量微图形的高速机械扫描系统

文献类型:期刊论文

作者张二星 ; 阮锦 ; 赵军
刊名光学精密工程
出版日期1994-06-30
期号03页码:80-84
关键词微型机械 微图形 机械扫描
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30489]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
张二星,阮锦,赵军. 用于测量微图形的高速机械扫描系统[J]. 光学精密工程,1994(03):80-84.
APA 张二星,阮锦,&赵军.(1994).用于测量微图形的高速机械扫描系统.光学精密工程(03),80-84.
MLA 张二星,et al."用于测量微图形的高速机械扫描系统".光学精密工程 .03(1994):80-84.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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