计算机辅助检测光学薄膜参数特性的一种方法探讨
文献类型：期刊论文
| 作者 | 胡君 ; 齐钰 |
| 刊名 | 光学精密工程
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| 出版日期 | 2000-12-30 |
| 期号 | 06页码:540-543 |
| 关键词 | 特征矩阵 逆运算 光学薄膜 光学厚度 计算机辅助检测 |
| 公开日期 | 2013-03-11 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30565]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡君,齐钰. 计算机辅助检测光学薄膜参数特性的一种方法探讨[J]. 光学精密工程,2000(06):540-543. |
| APA | 胡君,&齐钰.(2000).计算机辅助检测光学薄膜参数特性的一种方法探讨.光学精密工程(06),540-543. |
| MLA | 胡君,et al."计算机辅助检测光学薄膜参数特性的一种方法探讨".光学精密工程 .06(2000):540-543. |
入库方式： OAI收割
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