光学码盘的检验
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张红胜 ; 杨进堂 |
| 刊名 | 计量技术
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| 出版日期 | 1999-10-28 |
| 期号 | 10页码:25-27 |
| 关键词 | 光学码盘 刻划误差 均匀性误差 码道关系误差 |
| 公开日期 | 2013-03-11 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30694]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张红胜,杨进堂. 光学码盘的检验[J]. 计量技术,1999(10):25-27. |
| APA | 张红胜,&杨进堂.(1999).光学码盘的检验.计量技术(10),25-27. |
| MLA | 张红胜,et al."光学码盘的检验".计量技术 .10(1999):25-27. |
入库方式： OAI收割
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