薄盒中液晶分子预倾角的测试方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 邵喜斌 ; 林景波 ; 黄锡珉 |
| 刊名 | 液晶与显示
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| 出版日期 | 2000-06-30 |
| 期号 | 02页码:79-84 |
| 关键词 | 预倾角 晶体旋转法 光学位相补偿 |
| 公开日期 | 2013-03-11 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30780]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 邵喜斌,林景波,黄锡珉. 薄盒中液晶分子预倾角的测试方法[J]. 液晶与显示,2000(02):79-84. |
| APA | 邵喜斌,林景波,&黄锡珉.(2000).薄盒中液晶分子预倾角的测试方法.液晶与显示(02),79-84. |
| MLA | 邵喜斌,et al."薄盒中液晶分子预倾角的测试方法".液晶与显示 .02(2000):79-84. |
入库方式： OAI收割
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