中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
用干涉法进行轨迹测量的探讨

文献类型:期刊论文

作者史秀荣 ; 张二星
刊名光学精密工程
出版日期1995-06-30
期号03页码:107-111
关键词干涉计量 计算机软件
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31197]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
史秀荣,张二星. 用干涉法进行轨迹测量的探讨[J]. 光学精密工程,1995(03):107-111.
APA 史秀荣,&张二星.(1995).用干涉法进行轨迹测量的探讨.光学精密工程(03),107-111.
MLA 史秀荣,et al."用干涉法进行轨迹测量的探讨".光学精密工程 .03(1995):107-111.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。