优化公差对产品合格率影响的计算机模拟
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杨华民 ; 王黎明 ; 姜会林 ; 李共德 ; 任涛 ; 杨大任 ; 韩进玲 |
| 刊名 | 光学技术
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| 出版日期 | 1997-05-20 |
| 期号 | 03页码:48-51 |
| 关键词 | 经济公差 计算机模拟 |
| 公开日期 | 2013-03-11 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31338]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨华民,王黎明,姜会林,等. 优化公差对产品合格率影响的计算机模拟[J]. 光学技术,1997(03):48-51. |
| APA | 杨华民.,王黎明.,姜会林.,李共德.,任涛.,...&韩进玲.(1997).优化公差对产品合格率影响的计算机模拟.光学技术(03),48-51. |
| MLA | 杨华民,et al."优化公差对产品合格率影响的计算机模拟".光学技术 .03(1997):48-51. |
入库方式： OAI收割
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