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采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响

文献类型:期刊论文

作者王连明 ; 葛文奇 ; 谢慕君
刊名光学精密工程
出版日期2000-08-30
期号04页码:369-372
关键词采样频率 相位裕量 系统延迟 跟踪系统
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31653]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
王连明,葛文奇,谢慕君. 采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响[J]. 光学精密工程,2000(04):369-372.
APA 王连明,葛文奇,&谢慕君.(2000).采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响.光学精密工程(04),369-372.
MLA 王连明,et al."采样频率、系统延迟对跟踪系统稳定性能的影响".光学精密工程 .04(2000):369-372.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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