交流磁化剩磁法探伤的零磁漏检
文献类型:期刊论文
作者 | 康连福 |
刊名 | 测试技术学报
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出版日期 | 1999-08-15 |
期号 | 03页码:175-179 |
关键词 | 可控硅元件 控制断电相位 探伤 |
公开日期 | 2013-03-11 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31697] ![]() |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 康连福. 交流磁化剩磁法探伤的零磁漏检[J]. 测试技术学报,1999(03):175-179. |
APA | 康连福.(1999).交流磁化剩磁法探伤的零磁漏检.测试技术学报(03),175-179. |
MLA | 康连福."交流磁化剩磁法探伤的零磁漏检".测试技术学报 .03(1999):175-179. |
入库方式: OAI收割
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