CCD应用中数据取样技术的研究
文献类型:期刊论文
作者 | 曾晓洋 ; 郝志航 |
刊名 | 半导体光电
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出版日期 | 1999-08-30 |
期号 | 04页码:273-276 |
关键词 | CCD 相关双取样 复位噪声 相关四取样 |
公开日期 | 2013-03-11 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31810] ![]() |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 曾晓洋,郝志航. CCD应用中数据取样技术的研究[J]. 半导体光电,1999(04):273-276. |
APA | 曾晓洋,&郝志航.(1999).CCD应用中数据取样技术的研究.半导体光电(04),273-276. |
MLA | 曾晓洋,et al."CCD应用中数据取样技术的研究".半导体光电 .04(1999):273-276. |
入库方式: OAI收割
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