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CCD应用中数据取样技术的研究

文献类型:期刊论文

作者曾晓洋 ; 郝志航
刊名半导体光电
出版日期1999-08-30
期号04页码:273-276
关键词CCD 相关双取样 复位噪声 相关四取样
公开日期2013-03-11
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/31810]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
曾晓洋,郝志航. CCD应用中数据取样技术的研究[J]. 半导体光电,1999(04):273-276.
APA 曾晓洋,&郝志航.(1999).CCD应用中数据取样技术的研究.半导体光电(04),273-276.
MLA 曾晓洋,et al."CCD应用中数据取样技术的研究".半导体光电 .04(1999):273-276.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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