准直检测的改进──半孔径双向剪切干涉法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杨志文 ; 金锡哲 |
| 刊名 | 光电子·激光
 |
| 出版日期 | 1996-08-30 |
| 期号 | 04页码:220-223+214 |
| 关键词 | shearing interferometry collimation testing sensitivity |
| 公开日期 | 2013-03-12 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/32526]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨志文,金锡哲. 准直检测的改进──半孔径双向剪切干涉法[J]. 光电子·激光,1996(04):220-223+214. |
| APA | 杨志文,&金锡哲.(1996).准直检测的改进──半孔径双向剪切干涉法.光电子·激光(04),220-223+214. |
| MLA | 杨志文,et al."准直检测的改进──半孔径双向剪切干涉法".光电子·激光 .04(1996):220-223+214. |
入库方式： OAI收割
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