杂质对CaF_2光学晶体品质的影响
文献类型：会议论文
| 作者 | 臧春雨 ; 曹望和 ; 牛春晖 ; 崔承甲 |
| 出版日期 | 2001 |
| 会议地点 | 中国厦门 |
| 关键词 | CaF_2晶体 CaO CaS 位错分布 消光 晶格常数 |
| 中文摘要 | 本文叙述了用B-S方法生长CaF_2 晶体时,几种常见的负离子杂质对CaF_2 晶体的品质的影响,主要分析了O~(2-)、S~(2-)两种负离子在CaF_2 晶体中的存在形式,通过偏光显微镜分析了晶体杂质及周边基质CaF_2 晶体的应力,并解释了杂质晶体及基质晶体位错缺陷的成因。本文还分析了其它常见的杂质在不同的掺杂浓度下,对CaF_2 晶体品质产生的影响。 |
| 收录类别 | 中国会议 |
| 会议录出版者 | 重庆仪表材料研究所、中国仪器仪表学会仪表材料学会、《功能材料》编辑部、国家仪表功能材料工程技术研究中心 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/32820]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出_会议论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 臧春雨,曹望和,牛春晖,等. 杂质对CaF_2光学晶体品质的影响[C]. 见:. 中国厦门. |
入库方式： OAI收割
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