高速电光强度调制器和光电探测器频率响应测试方法研究
文献类型：学位论文
| 作者 | 黄亨沛 |
| 学位类别 | 博士 |
| 答辩日期 | 2007 |
| 授予单位 | 中国科学院半导体研究所 |
| 授予地点 | 北京 |
| 导师 | 祝宁华 |
| 英文摘要 | Submitted by zhangdi (zhangdi@red.semi.ac.cn) on 2009-04-13T11:45:31Z; Made available in DSpace on 2009-04-13T11:45:31Z (GMT).; Made available in DSpace on 2009-07-09T01:36:46Z (GMT). No. of bitstreams: 1 disk/eh2007/hhp.pdf: 2119002 bytes, checksum: a6f663df4f98f35b2dcc97745408bf82 (MD5) Previous issue date: 2007 |
| 学科主题 | 微电子学与固体电子学 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2009-04-13 ; 2009-07-09 ; 2010-10-15 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/5775]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄亨沛. 高速电光强度调制器和光电探测器频率响应测试方法研究[D]. 北京. 中国科学院半导体研究所. 2007. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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