Defect of Te-doped GaSb layers grown by molecular beam epitaxy
文献类型:期刊论文
; | |
作者 | Chen Y (Chen Yan); Deng AH (Deng Ai-Hong); Tang B (Tang Bao); Wang GW (Wang Guo-Wei); Xu YQ (Xu Ying-Qiang); Niu ZC (Niu Zhi-Chuan) |
刊名 | journal of infrared and millimeter waves
![]() ![]() |
出版日期 | 2012 ; 2012 |
卷号 | 31期号:4页码:298-301 |
学科主题 | 半导体物理 ; 半导体物理 |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 ; 英语 |
公开日期 | 2013-04-02 ; 2013-04-02 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23857] ![]() |
专题 | 半导体研究所_半导体超晶格国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Chen Y ,Deng AH ,Tang B ,et al. Defect of Te-doped GaSb layers grown by molecular beam epitaxy, Defect of Te-doped GaSb layers grown by molecular beam epitaxy[J]. journal of infrared and millimeter waves, JOURNAL OF INFRARED AND MILLIMETER WAVES,2012, 2012,31, 31(4):298-301, 298-301. |
APA | Chen Y ,Deng AH ,Tang B ,Wang GW ,Xu YQ ,&Niu ZC .(2012).Defect of Te-doped GaSb layers grown by molecular beam epitaxy.journal of infrared and millimeter waves,31(4),298-301. |
MLA | Chen Y ,et al."Defect of Te-doped GaSb layers grown by molecular beam epitaxy".journal of infrared and millimeter waves 31.4(2012):298-301. |
入库方式: OAI收割
来源:半导体研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。