Can interference patterns in the reflectance spectra of GaN epilayers give important information of carrier concentration?
文献类型：期刊论文
| 作者 | Zheng CC (Zheng, C. C.) ; Xu SJ (Xu, S. J.) ; Zhang F (Zhang, F.) ; Ning JQ (Ning, J. Q.) ; Zhao DG (Zhao, D. G.) ; Yang H (Yang, H.) ; Che CM (Che, C. M.) |
| 刊名 | applied physics letters
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| 出版日期 | 2012 |
| 卷号 | 101期号:19页码:191102 |
| 学科主题 | 光电子学 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2013-03-27 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23803]  |
| 专题 | 半导体研究所_集成光电子学国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Zheng CC ,Xu SJ ,Zhang F ,et al. Can interference patterns in the reflectance spectra of GaN epilayers give important information of carrier concentration?[J]. applied physics letters,2012,101(19):191102. |
| APA | Zheng CC .,Xu SJ .,Zhang F .,Ning JQ .,Zhao DG .,...&Che CM .(2012).Can interference patterns in the reflectance spectra of GaN epilayers give important information of carrier concentration?.applied physics letters,101(19),191102. |
| MLA | Zheng CC ,et al."Can interference patterns in the reflectance spectra of GaN epilayers give important information of carrier concentration?".applied physics letters 101.19(2012):191102. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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