A New Method for Measuring the Frequency Response of Broadband Optoelectronic Devices
文献类型:期刊论文
作者 | Wu XM (Wu, Xuming) ; Man JW (Man, Jiangwei) ; Xie L (Xie, Liang) ; Liu JG (Liu, Jianguo) ; Liu Y (Liu, Yu) ; Zhu NH (Zhu, Ninghua) |
刊名 | ieee photonics journal
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出版日期 | 2012 |
卷号 | 4期号:5页码:1679-1685 |
学科主题 | 光电子学 |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 |
公开日期 | 2013-03-27 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23819] ![]() |
专题 | 半导体研究所_集成光电子学国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Wu XM ,Man JW ,Xie L ,et al. A New Method for Measuring the Frequency Response of Broadband Optoelectronic Devices[J]. ieee photonics journal,2012,4(5):1679-1685. |
APA | Wu XM ,Man JW ,Xie L ,Liu JG ,Liu Y ,&Zhu NH .(2012).A New Method for Measuring the Frequency Response of Broadband Optoelectronic Devices.ieee photonics journal,4(5),1679-1685. |
MLA | Wu XM ,et al."A New Method for Measuring the Frequency Response of Broadband Optoelectronic Devices".ieee photonics journal 4.5(2012):1679-1685. |
入库方式: OAI收割
来源:半导体研究所
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