Design of Co-path Scanning Long Trace Profiler for Measurement of X-ray Space Optical Elements
文献类型:会议论文
作者 | Shun L. ; Yan G. ; Wei Z. ; Yang Z. |
出版日期 | 2010 |
会议日期 | 2010 |
会议录 | Proceedings of SPIE
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会议录出版者 | Spie-Int Soc Optical Engineering |
会议录出版地 | Bellingham |
语种 | 英语 |
ISBN号 | 0277-786X 978-0-81947-940-2 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/34725] ![]() |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出_会议论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Shun L.,Yan G.,Wei Z.,et al. Design of Co-path Scanning Long Trace Profiler for Measurement of X-ray Space Optical Elements[C]. 见:. 2010. |
入库方式: OAI收割
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