中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
平面型相变存储器的制备及性能研究

文献类型:学位论文

作者杜小锋
学位类别博士
答辩日期2012-05-25
授予单位中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  
导师刘卫丽,宋志棠
关键词相变存储器(PCM) 线形平面相变存储器 桥型平面相变存储器 硬掩膜 聚焦离子束(FIB)
其他题名Lateral Phase Change Memory Fabrication and Scaling Property Studies
学位专业微电子学与固体电子学
中文摘要随着半导体技术和手持终端的发展,人们对更快速度、更大容量和更低功耗的存储器的需求越来越迫切。相变存储器是利用电脉冲产生的热量使存储介质在多晶态(低阻)和非晶态(高阻)之间相互转换实现信息的写入和擦除操作的一种新型存储器技术。由于其在读写速度、读写次数、数据保持力和与CMOS工艺兼容等方面具有着诸多优势,被认为是下一代主流存储器的有力竞争者。纳米材料由于其在尺寸上的固有特征,与同等组分的体材料相比会具有不同的性质。为了确保相变存储器在纳米尺寸下正常工作,非常有必要研究其材料和器件在纳米尺寸下的性能。本文正是
语种中文
公开日期2013-04-24
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/115004]  
专题上海微系统与信息技术研究所_微系统、冶金所学位论文_学位论文
推荐引用方式
GB/T 7714
杜小锋. 平面型相变存储器的制备及性能研究[D]. 中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  . 2012.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。