XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪
文献类型：期刊论文
| 作者 | 乐安全 ; 林金锌 ; 朱节清 ; 谷英梅 ; 顾连学 ; 韩发生 ; 徐君权 ; 王裕政 ; 王志芳 |
| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 1991-09-28 |
| 期号 | 09 |
| 中文摘要 | 本仪器利用X射线荧光分析原理和微机技术研制而成的。以小型X射线管作激发源;射线用小孔准直;样品用光学定位;样品最小测量面直径为0.1mm。微机多道实时显示能谱。它能快速、精确、无损测量多种微小面积上的单、双涂层厚度和合金涂层厚度及成分;结果由屏幕显示并打印输出;还能作统计处理。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11043]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 乐安全,林金锌,朱节清,等. XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪[J]. 核技术,1991(09). |
| APA | 乐安全.,林金锌.,朱节清.,谷英梅.,顾连学.,...&王志芳.(1991).XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪.核技术(09). |
| MLA | 乐安全,et al."XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪".核技术 .09(1991). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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