YH-84X荧光涂层测厚仪——涂层厚度的无损检测仪器
文献类型：期刊论文
| 作者 | 乐安全 |
| 刊名 | 现代科学仪器
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| 出版日期 | 1991-09-15 |
| 期号 | 03 |
| 中文摘要 | <正> 引言为了提高产品或零部件的耐磨性、耐锉性或改善其外观装饰;常在其表面涂(镀)一层很薄的保护层或装饰层。由于这些涂层的厚度不仅会影响产品质量;还与产品成本密切有关;因此对涂层厚度进行快速无损检测有着明显的实用价值和经济效益。X 射线荧光测厚是70年代迅速发展起来的一项新技术;β射线反散射测厚早在50年代已用来测量较大面积涂层的平均厚度;这些都属于非破坏性无损检洲方法。但是β射线反散射测厚有它的局限性;只有当涂层和基底材料的原子序数差大于二者平均值的 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11048]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 乐安全. YH-84X荧光涂层测厚仪——涂层厚度的无损检测仪器[J]. 现代科学仪器,1991(03). |
| APA | 乐安全.(1991).YH-84X荧光涂层测厚仪——涂层厚度的无损检测仪器.现代科学仪器(03). |
| MLA | 乐安全."YH-84X荧光涂层测厚仪——涂层厚度的无损检测仪器".现代科学仪器 .03(1991). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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