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背散射法测定低能氩离子对金的溅射率

文献类型:期刊论文

作者明嘉增 ; 陈国明 ; 周祖尧 ; 任琮欣 ; 杨絜 ; 傅新定 ; 朱德彰 ; 曹德新
刊名核技术
出版日期1987-09-28
期号09
中文摘要本文用背散射方法测定了300—1200eV不同能量的氩离子对金的溅射率。实验测得的背散射能谱用两种不同的方法(能量损失和面积法)处理;结果表明;用背散射法测得金的溅射率与G.K.Wehner用称重法测定的数据很接近;其与入射离子能量的关系为Y∝E~(0.4)。
收录类别CNKI
语种中文
公开日期2013-01-23
源URL[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11097]  
专题上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前
推荐引用方式
GB/T 7714
明嘉增,陈国明,周祖尧,等. 背散射法测定低能氩离子对金的溅射率[J]. 核技术,1987(09).
APA 明嘉增.,陈国明.,周祖尧.,任琮欣.,杨絜.,...&曹德新.(1987).背散射法测定低能氩离子对金的溅射率.核技术(09).
MLA 明嘉增,et al."背散射法测定低能氩离子对金的溅射率".核技术 .09(1987).

入库方式: OAI收割

来源:上海应用物理研究所

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