采用弹性反冲分析法同时测量薄膜中氢和氘的深度分布
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王运来 ; 宋世战 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1997-10-10 |
| 期号 | 10 |
| 中文摘要 | 给出由重叠反冲能谱计算氢和氘的浓度及深度分布的解谱技术。用４．５ＭｅＶ和４．２ＭｅＶ的α粒子作入射粒子得到两个反冲能谱;在考虑和不考虑能量展宽效应的情况下分析了钛膜中氢和氘的深度分布;发现考虑能量展宽效应的影响得到的氢和氘的深度分布是令人满意的。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11130]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王运来,宋世战. 采用弹性反冲分析法同时测量薄膜中氢和氘的深度分布[J]. 核技术,1997(10). |
| APA | 王运来,&宋世战.(1997).采用弹性反冲分析法同时测量薄膜中氢和氘的深度分布.核技术(10). |
| MLA | 王运来,et al."采用弹性反冲分析法同时测量薄膜中氢和氘的深度分布".核技术 .10(1997). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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