超薄窗Si（Li）探测器在实验中的应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘惠珍 ; 朱福英 ; 朱德彰 ; 曹德新 ; 沈浩元 ; 浦世节 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1994-04-10 |
| 期号 | 04 |
| 中文摘要 | 用超薄窗Ｓｉ（Ｌｉ）探测器测量低能Ｘ射线;将传统的ＰＩＸＥ谱测量范围推广到如Ｓｉ、Ａｌ、Ｎａ等低原子序数元素。还对超薄窗Ｓｉ（Ｌｉ）探测器的具体应用作了描述。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11143]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘惠珍,朱福英,朱德彰,等. 超薄窗Si（Li）探测器在实验中的应用[J]. 核技术,1994(04). |
| APA | 刘惠珍,朱福英,朱德彰,曹德新,沈浩元,&浦世节.(1994).超薄窗Si（Li）探测器在实验中的应用.核技术(04). |
| MLA | 刘惠珍,et al."超薄窗Si（Li）探测器在实验中的应用".核技术 .04(1994). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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