电致冷高分辨率 Si(Li)能谱仪
文献类型：期刊论文
| 作者 | 沈浩元 ; 浦世节 ; 张光明 |
| 刊名 | 核电子学与探测技术
 |
| 出版日期 | 1998-03-20 |
| 期号 | 02 |
| 中文摘要 | 电致冷高分辨率Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线能谱分析仪采用电阻反馈前置放大器;灵敏面积为２８ｍｍ２Ｓｉ（Ｌｉ）探测器;对５５Ｆｅ５．９ｋｅＶＸ射线;能量分辨率［ＦＷＨＭ］为７００ｅＶ左右。对探测器在不同温度下随偏压的变化、致冷功率与温度关系、冷却温度与时间关系进行了研究。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11285]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 沈浩元,浦世节,张光明. 电致冷高分辨率 Si(Li)能谱仪[J]. 核电子学与探测技术,1998(02). |
| APA | 沈浩元,浦世节,&张光明.(1998).电致冷高分辨率 Si(Li)能谱仪.核电子学与探测技术(02). |
| MLA | 沈浩元,et al."电致冷高分辨率 Si(Li)能谱仪".核电子学与探测技术 .02(1998). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。