黄铜镀层成份分析仪
文献类型：期刊论文
| 作者 | 乐安全 ; 谷英梅 ; 顾连学 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1990-05-31 |
| 期号 | 05 |
| 中文摘要 | 本文简要介绍了黄铜镀层成份分析仪的测量原理和结构。它能快速、无损、精确地测定铁、镍基底上黄铜镀层(厚度为3—5μm)中的铜、锌百分含量;分析铜含量的精确度为0.6％。测量结束能显示和打印出铜、锌含量和铜含量误差。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11574]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 乐安全,谷英梅,顾连学. 黄铜镀层成份分析仪[J]. 核技术,1990(05). |
| APA | 乐安全,谷英梅,&顾连学.(1990).黄铜镀层成份分析仪.核技术(05). |
| MLA | 乐安全,et al."黄铜镀层成份分析仪".核技术 .05(1990). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。