钽—铋原子L次壳层空位的衰变产额
文献类型:期刊论文
| 作者 | 徐君权 |
| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 1991 |
| 期号 | 10 |
| 中文摘要 | 我们建立了重元素L壳层空位退激过程的计算模型。利用这个模型;分析了Croldberg用50keV电子激发金属元素、用弯晶谱仪测量到的LX射线强度谱;从而求得了从Ta到Bi 10个元素的L_1、L_2和L_3次壳层荧光产额ω_1、ω_2和ω_3。它们都与近几年国际上发表的实验值相符;但在Z=80号元素附近明显地与Krause的半经验汇编值不同。本工作得到的ω_1值在Z≈80处大约比汇编值大20%;比Chen等的理论值大55%。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12031] ![]() |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐君权. 钽—铋原子L次壳层空位的衰变产额[J]. 核技术,1991(10). |
| APA | 徐君权.(1991).钽—铋原子L次壳层空位的衰变产额.核技术(10). |
| MLA | 徐君权."钽—铋原子L次壳层空位的衰变产额".核技术 .10(1991). |
入库方式: OAI收割
来源:上海应用物理研究所
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