同位素激发X荧光分析测定铜保持器的磨损
文献类型：期刊论文
| 作者 | 鲍锦荣 ; 荣廷文 ; 林森浩 ; 章家鼎 ; 华芝芬 ; 邱瑞球 ; 高培明 ; 韩俊龙 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1982 |
| 期号 | 04 |
| 中文摘要 | <正> 现我国纱厂用的纱锭轴承中的金属铜保持器有两种不同的生产工艺;为了解不同工艺生产的铜保持器在使用过程中的耐磨性能;采用同位素源激发X荧光分析法测定磨损后的轴承套内润滑油中铜的含量;来推断其耐磨性能。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12061]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 鲍锦荣,荣廷文,林森浩,等. 同位素激发X荧光分析测定铜保持器的磨损[J]. 核技术,1982(04). |
| APA | 鲍锦荣.,荣廷文.,林森浩.,章家鼎.,华芝芬.,...&韩俊龙.(1982).同位素激发X荧光分析测定铜保持器的磨损.核技术(04). |
| MLA | 鲍锦荣,et al."同位素激发X荧光分析测定铜保持器的磨损".核技术 .04(1982). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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