微束X射线荧光分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 乐安全 ; 朱节清 ; 谷英梅 |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
 |
| 出版日期 | 1993 |
| 期号 | 03 |
| 中文摘要 | 用能量色散微束X射线荧光分析仪实际测量了微束准直器孔径和X射线强度对微束空间分辨率的影响;在准直器孔径为0.1mm条件下;获得以FWHM定义的空间分辨率最好为0.073mm。通过微束扫描测量出某硫化锰矿微区内的Mn、Fe、Zn、Pb的三维等高线荧光强度分布图和不同小区域内的能谱。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12107]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 乐安全,朱节清,谷英梅. 微束X射线荧光分析[J]. 光谱学与光谱分析,1993(03). |
| APA | 乐安全,朱节清,&谷英梅.(1993).微束X射线荧光分析.光谱学与光谱分析(03). |
| MLA | 乐安全,et al."微束X射线荧光分析".光谱学与光谱分析 .03(1993). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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