微束背散射分析元素微区分布的研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陆荣荣 ; 王玟珉 ; 朱节清 ; 乐安全 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1993 |
| 期号 | 10 |
| 中文摘要 | 微束背散射分析元素微区分布的分析方法使上海原子核研究所的质子微探针能在微区内综合使用质子激发X射线荧光和背散射等多种核效应;为样品由轻元素到重元素的全面无损、双微(微区、微量)分析提供了依据。应用该方法还测量了Si_3N_4/SiC复合陶瓷材料;证明了该分析方法的可靠性。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12108]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陆荣荣,王玟珉,朱节清,等. 微束背散射分析元素微区分布的研究[J]. 核技术,1993(10). |
| APA | 陆荣荣,王玟珉,朱节清,&乐安全.(1993).微束背散射分析元素微区分布的研究.核技术(10). |
| MLA | 陆荣荣,et al."微束背散射分析元素微区分布的研究".核技术 .10(1993). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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