用于核态寿命测量的X-γ-γ定时符合系统
文献类型：期刊论文
| 作者 | 顾嘉辉 ; 刘静怡 ; 何四言 ; 余笑寒 ; 曾寄萍 ; 曹玉祥 ; 李燕 ; 石双惠 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1998 |
| 期号 | 04 |
| 中文摘要 | 由两只ＢａＦ２闪烁探测器和一只高纯锗探测器组成的延迟符合系统适用于电子俘获衰变和Ｅ０跃迁生成的ｎｓ和ｐｓ量级激发态寿命测量。快符合涉及特征Ｘ射线和相应的级联衰变γ射线测量;系统具有元素和级联选择的优点。该系统对放射性核素１５２￣Ｅｕ进行测量;除得到Ｘ－γ－γ瞬发时间谱的半高全宽度外;还分别得到１２１．７８ｋｅＶ和３６６．４８ｋｅＶ能级的半寿命分别为１．３９５±０．０３５ｎｓ和４８±１０ｐｓ。结果表明该系统适用于Ｚ≥６２的电子俘获衰变研究。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12352]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 顾嘉辉,刘静怡,何四言,等. 用于核态寿命测量的X-γ-γ定时符合系统[J]. 核技术,1998(04). |
| APA | 顾嘉辉.,刘静怡.,何四言.,余笑寒.,曾寄萍.,...&石双惠.(1998).用于核态寿命测量的X-γ-γ定时符合系统.核技术(04). |
| MLA | 顾嘉辉,et al."用于核态寿命测量的X-γ-γ定时符合系统".核技术 .04(1998). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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