质子和~4He离子激发金和铋产生的LX射线的相对强度
文献类型：期刊论文
| 作者 | 徐君权 ; 许浔江 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1992 |
| 期号 | 02 |
| 中文摘要 | 利用ECPSSR电离理论和新获得的L次亮层荧光产额等;计算了质子和~4He离子激发Au和Bi所产生的LX射线相对强度。质子能量为0.18—10MeV;~4He离子能量为1.0—4.0MeV。计算结果和报道的实验测量符合得很好。没有发现L次壳层偶合效应。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12422]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐君权,许浔江. 质子和~4He离子激发金和铋产生的LX射线的相对强度[J]. 核技术,1992(02). |
| APA | 徐君权,&许浔江.(1992).质子和~4He离子激发金和铋产生的LX射线的相对强度.核技术(02). |
| MLA | 徐君权,et al."质子和~4He离子激发金和铋产生的LX射线的相对强度".核技术 .02(1992). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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