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Investigation of silicon on insulator fabricated by two-step O+ implantation

文献类型:期刊论文

作者Wei, X ; Xue, ZY ; Wu, AM(重点实验室) ; Wang, X(重点实验室) ; Li, XY ; Ye, F ; Chen, J ; Chen, M ; Zhang, B(重点实验室) ; Lin, CL(重点实验室) ; Zhang, MA ; Wang, X(重点实验室)
刊名CHINESE SCIENCE BULLETIN
出版日期2011
卷号56页码:444-448
关键词Multidisciplinary Sciences
ISSN号1001-6538
学科主题Science & Technology - Other Topics
收录类别SCI
原文出处10.1007/s11434-011-4382-6
语种英语
公开日期2013-05-10
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/115122]  
专题上海微系统与信息技术研究所_信息功能材料国家重点实验室2008-2012_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
Wei, X,Xue, ZY,Wu, AM,et al. Investigation of silicon on insulator fabricated by two-step O+ implantation[J]. CHINESE SCIENCE BULLETIN,2011,56:444-448.
APA Wei, X.,Xue, ZY.,Wu, AM.,Wang, X.,Li, XY.,...&Wang, X.(2011).Investigation of silicon on insulator fabricated by two-step O+ implantation.CHINESE SCIENCE BULLETIN,56,444-448.
MLA Wei, X,et al."Investigation of silicon on insulator fabricated by two-step O+ implantation".CHINESE SCIENCE BULLETIN 56(2011):444-448.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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