Total ionizing dose effect of 0. 18 mu M nMOSFETs
文献类型：期刊论文
| 作者 | Liu, ZL ; Hu, ZY ; Zhang, ZX（重点实验室） ; Shao, H ; Ning, BX ; Bi, DW（重点实验室） ; Chen, M ; Zou, SC（重点实验室） |
| 刊名 | ACTA PHYSICA SINICA
 |
| 出版日期 | 2011 |
| 卷号 | 60期号:11页码:116103 |
| 关键词 | Physics Multidisciplinary |
| ISSN号 | 1000-3290 |
| 学科主题 | Physics |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2013-05-10 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/115137]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_信息功能材料国家重点实验室2008-2012_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Liu, ZL,Hu, ZY,Zhang, ZX,et al. Total ionizing dose effect of 0. 18 mu M nMOSFETs[J]. ACTA PHYSICA SINICA,2011,60(11):116103. |
| APA | Liu, ZL.,Hu, ZY.,Zhang, ZX.,Shao, H.,Ning, BX.,...&Zou, SC.(2011).Total ionizing dose effect of 0. 18 mu M nMOSFETs.ACTA PHYSICA SINICA,60(11),116103. |
| MLA | Liu, ZL,et al."Total ionizing dose effect of 0. 18 mu M nMOSFETs".ACTA PHYSICA SINICA 60.11(2011):116103. |
入库方式： OAI收割
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