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Parameter tolerance of the SQUID bootstrap circuit

文献类型:期刊论文

作者Zhang, GF ; Zhang, Y ; Dong, H ; Krause, HJ ; Xie, XM(重点实验室) ; Braginski, AI ; Offenhausser, A ; Jiang, MH(重点实验室)
刊名SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY
出版日期2012
卷号25期号:1页码:15006
关键词Physics Physics Applied Condensed Matter
ISSN号0953-2048
学科主题Physics
收录类别SCI
原文出处10.1088/0953-2048/25/1/015006
语种英语
公开日期2013-05-10
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/115175]  
专题上海微系统与信息技术研究所_信息功能材料国家重点实验室2008-2012_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
Zhang, GF,Zhang, Y,Dong, H,et al. Parameter tolerance of the SQUID bootstrap circuit[J]. SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY,2012,25(1):15006.
APA Zhang, GF.,Zhang, Y.,Dong, H.,Krause, HJ.,Xie, XM.,...&Jiang, MH.(2012).Parameter tolerance of the SQUID bootstrap circuit.SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY,25(1),15006.
MLA Zhang, GF,et al."Parameter tolerance of the SQUID bootstrap circuit".SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY 25.1(2012):15006.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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