Parameter tolerance of the SQUID bootstrap circuit
文献类型:期刊论文
作者 | Zhang, GF ; Zhang, Y ; Dong, H ; Krause, HJ ; Xie, XM(重点实验室) ; Braginski, AI ; Offenhausser, A ; Jiang, MH(重点实验室) |
刊名 | SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY
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出版日期 | 2012 |
卷号 | 25期号:1页码:15006 |
关键词 | Physics Physics Applied Condensed Matter |
ISSN号 | 0953-2048 |
学科主题 | Physics |
收录类别 | SCI |
原文出处 | 10.1088/0953-2048/25/1/015006 |
语种 | 英语 |
公开日期 | 2013-05-10 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/115175] ![]() |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_信息功能材料国家重点实验室2008-2012_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhang, GF,Zhang, Y,Dong, H,et al. Parameter tolerance of the SQUID bootstrap circuit[J]. SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY,2012,25(1):15006. |
APA | Zhang, GF.,Zhang, Y.,Dong, H.,Krause, HJ.,Xie, XM.,...&Jiang, MH.(2012).Parameter tolerance of the SQUID bootstrap circuit.SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY,25(1),15006. |
MLA | Zhang, GF,et al."Parameter tolerance of the SQUID bootstrap circuit".SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY 25.1(2012):15006. |
入库方式: OAI收割
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