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超灵敏小型回旋加速器质谱计的Cs溅射负离子源的研制和性能

文献类型:期刊论文

作者斯厚智
刊名核技术
出版日期2001-12-30
期号S1
中文摘要一台用于超灵敏质谱(AMS)的带有多靶机构的强流溅射负离子源己经研制完成,为了满足AMS的特殊要求,源的设计着重解决提高流强、降低记忆效应及改善发射度等方面的问题,并且十分注意性能的可靠性与稳定性。样机在试验台架上进行了一年多的调试并进一步作了改进,迄今已引出了10μA Be0、5μA Al、4.5μA Fe、350μA C-以及其他十余个离子品种,100μA以下测得的归一化发射度为(2-4)πmm.mrad.MeV1/2,对记忆效应与电离效率也进行了初步测定。
收录类别CNKI
语种中文
公开日期2013-01-23
源URL[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/10292]  
专题上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年
推荐引用方式
GB/T 7714
斯厚智. 超灵敏小型回旋加速器质谱计的Cs溅射负离子源的研制和性能[J]. 核技术,2001(S1).
APA 斯厚智.(2001).超灵敏小型回旋加速器质谱计的Cs溅射负离子源的研制和性能.核技术(S1).
MLA 斯厚智."超灵敏小型回旋加速器质谱计的Cs溅射负离子源的研制和性能".核技术 .S1(2001).

入库方式: OAI收割

来源:上海应用物理研究所

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