IMS检测仪
文献类型：专利
| 作者 | 蒋大真 ; 魏永波 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 中文摘要 | 本实用新型公开了一种IMS检测仪，包括一个电离室、一个漂移管和一个第一门电极，还包括一个第二门电极，所述第二门电极设在该电离室和该漂移管之间，该第一、第二门电极之间形成有一个离子交换区。本实用新型采用双脉冲门的结构，样品离子产生以后，在脉冲门关闭期间，样品离子被限制在一个无场区中，而不是直接打到脉冲门上损失掉，提高了样品离子的检出效率，降低了离子的检出线，从本质上有效提高了仪器检测灵敏度，交换区没有电场，有利于离子与样品分子之间的离子交换。 |
| 学科主题 | G01N27/66 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200520047493 |
| 专利代理 | 薛琦 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/10497]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 蒋大真,魏永波. IMS检测仪. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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