固体电解质薄膜的测量装置
文献类型：专利
| 作者 | 李景烨
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| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 中文摘要 | 本实用新型涉及一种固体电解质薄膜的测量装置，该测量装置包括：两个底座；与上述一底座连接的一转盘；固定于该转盘边缘的一手柄；与该两个底座两侧连接的螺纹杆和限位螺纹杆；以及由该限位螺纹杆形成空间内的复数个测试单元。本实用新型固体电解质薄膜的测量装置能够将多个待测样品和对比样品以同样的夹紧压力固定于测试电极中，并能在同一环境条件下进行测量，实现一次调节环境温湿度测量多个样品，节约了大量的测试等待时间，提高工作效率和准确率。 |
| 学科主题 | G01R27/02 ; G01R31/00 |
| 公开日期 | 2013-01-23 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200820054730 |
| 专利代理 | 薛琦 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/10503]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李景烨. 固体电解质薄膜的测量装置. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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