高精度热电离质谱法测定铟同位素
文献类型：期刊论文
| 作者 | 肖应凯 ; 王蕴慧 ; 祁海平 ; 金琳 |
| 刊名 | 分析化学
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| 出版日期 | 1992-04-30 |
| 期号 | 4页码:458-460 |
| 关键词 | 量同位素 热电离 铟原子量 |
| 中文摘要 | 本文系统研究了高精度热电离质谱测定铟同位素的方法,采用磷酸涂样技术,获得了强而稳定的In~+离子流,5种锢试剂中的平均~(113)In/~(115)In比值为0.044804±0.000055(2SD),由此比值计算的铟原子量为114.8185(2)比现行的114.82更为精密。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-05-17 |
| 源URL | [http://ir.isl.ac.cn/handle/363002/1374]  |
| 专题 | 青海盐湖研究所_青海盐湖研究所知识仓储 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 肖应凯,王蕴慧,祁海平,等. 高精度热电离质谱法测定铟同位素[J]. 分析化学,1992(4):458-460. |
| APA | 肖应凯,王蕴慧,祁海平,&金琳.(1992).高精度热电离质谱法测定铟同位素.分析化学(4),458-460. |
| MLA | 肖应凯,et al."高精度热电离质谱法测定铟同位素".分析化学 .4(1992):458-460. |
入库方式： OAI收割
来源：青海盐湖研究所
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