Thermal analysis for fast thermal-response Si waveguide wrapped by SiN
文献类型：期刊论文
| 作者 | Min Rui,Ruiqiang JI,Yang Lin |
| 刊名 | frontiers of optoelectronics
 |
| 出版日期 | 2012 |
| 卷号 | 5期号:1页码:73-77 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2013-06-03 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24144]  |
| 专题 | 半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Min Rui,Ruiqiang JI,Yang Lin. Thermal analysis for fast thermal-response Si waveguide wrapped by SiN[J]. frontiers of optoelectronics,2012,5(1):73-77. |
| APA | Min Rui,Ruiqiang JI,Yang Lin.(2012).Thermal analysis for fast thermal-response Si waveguide wrapped by SiN.frontiers of optoelectronics,5(1),73-77. |
| MLA | Min Rui,Ruiqiang JI,Yang Lin."Thermal analysis for fast thermal-response Si waveguide wrapped by SiN".frontiers of optoelectronics 5.1(2012):73-77. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。