薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统及测试方法
文献类型：专利
| 作者 | 张广平, 朱晓飞 and 张滨 |
| 发表日期 | 2009-11-04 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院金属研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及一种小尺度薄膜材料的动态弯曲疲劳性能测试系统的建立和测试 方法。该测试系统由电磁驱动部分、试样夹持部分和测量与观察部分组成,该系 统提供了对各种微/纳电子机械系统用有基体支持或无基体支持的薄膜材料、集成 电路用金属化互连体箔材料以及各种二维薄板类材料进行动态弯曲疲劳性能测试 的功能和测试方法,同时可以对被测试样形貌进行原位的实时监测与分析记录。 利用通电线圈在恒定磁场中所受的电磁力驱动悬臂梁试样的自由端相对其平衡位 置做往复运动,从而对各类材料试样施加各种类型的循环疲劳载荷,且所施加疲 劳载荷的精度可以达到毫牛顿量级,本发明可对... |
| 公开日期 | 2009-11-04 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN101571467 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/65836]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张广平, 朱晓飞 and 张滨. 薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统及测试方法. 2009-11-04. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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