金属薄膜/箔力学性能临界特征尺度的测试系统和方法
文献类型：专利
| 作者 | 张广平, 郏义征 and 张滨 |
| 发表日期 | 2008-08-06 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院金属研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及金属薄膜或金属箔等厚度为小尺寸材料的力学性能临界特征尺度 测试系统的建立,该系统提供对样品实施微弯曲实验的整套测试装置及具体测试 方法。整套测试装置包括基座、推进器、样品加载模具对模、芯轴等。推动推进 器,将上模具与下模具扣合,样品在加载对模中受到纯弯曲载荷的作用,直到被 测样品按照所接触的芯轴曲率发生完全弯曲变形,通过测算样品弯曲变形的曲率 半径可进一步获得材料的力学性能临界特征尺度值。本发明所提供的整套装置和 测试方法无需计算对样品所施载荷的大小,只要准确测量加载和卸载样品发生微 弯曲变形对应的圆弧曲率半径,便可计算出材料的... |
| 公开日期 | 2008-08-06 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN101236146 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/66103]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张广平, 郏义征 and 张滨. 金属薄膜/箔力学性能临界特征尺度的测试系统和方法. 2008-08-06. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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