透射电镜用金属粉体薄膜的制备方法
文献类型:专利
作者 | 黄建宇, 何安强, 吴玉琨, 胡魁毅 and 孟祥敏 |
发表日期 | 1994-03-09 |
专利国别 | 中国 |
专利类型 | 发明专利 |
权利人 | 中国科学院金属研究所 |
中文摘要 | 本方法为用透射电镜分析金属粉体样品的制备方法。具体采用密孔金属网支撑固化金属粉体,再用离子束减薄至100nm以下或20nm以下的要求厚度,在上下均为贴有硫酸纸的玻璃片上放入树脂与粉体混合物,中间放入金属网,在60℃固化10小时,然后去掉玻璃片,用砂纸磨至金属网露出,再用离子束减薄至穿孔为止,即为薄膜样品,此种方法优点:可制作100nm以下厚度,简便易行,不需价格昂贵设备,耗能少,适用材料广泛。 |
公开日期 | 1994-03-09 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN1083591 |
源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/66368] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄建宇, 何安强, 吴玉琨, 胡魁毅 and 孟祥敏. 透射电镜用金属粉体薄膜的制备方法. 1994-03-09. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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