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透射电镜用金属粉体薄膜的制备方法

文献类型:专利

作者黄建宇, 何安强, 吴玉琨, 胡魁毅 and 孟祥敏
发表日期1994-03-09
专利国别中国
专利类型发明专利
权利人中国科学院金属研究所
中文摘要本方法为用透射电镜分析金属粉体样品的制备方法。具体采用密孔金属网支撑固化金属粉体,再用离子束减薄至100nm以下或20nm以下的要求厚度,在上下均为贴有硫酸纸的玻璃片上放入树脂与粉体混合物,中间放入金属网,在60℃固化10小时,然后去掉玻璃片,用砂纸磨至金属网露出,再用离子束减薄至穿孔为止,即为薄膜样品,此种方法优点:可制作100nm以下厚度,简便易行,不需价格昂贵设备,耗能少,适用材料广泛。
公开日期1994-03-09
语种中文
专利申请号CN1083591
源URL[http://210.72.142.130/handle/321006/66368]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
黄建宇, 何安强, 吴玉琨, 胡魁毅 and 孟祥敏. 透射电镜用金属粉体薄膜的制备方法. 1994-03-09.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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