一种材料温度的原位精密测量方法及其在材料形变研究中的应用
文献类型：专利
| 作者 | 饶光斌, 王俭秋, 韩恩厚 and 柯伟 |
| 发表日期 | 2005-08-24 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院金属研究所 |
| 中文摘要 | 本发明提供一种材料温度的原位精密测量方法,其特征在于：用胶贴在材料试样上的热敏电阻将试样的温度变换成相应的电阻；用数字式电阻测量仪表测得电阻值,事先对电阻值与温度的对应关系进行标定,标定的温度范围为5～50℃；用计算机采集电阻值和相应的时间,从而得到温度变化曲线。本发明提供的材料温度的原位精密测量方法的优点在于：具有非常高的灵敏度和温度分辨率(高于0.001℃),是一种研究疲劳过程中试样所发生的变化监测和疲劳机理研究的有效手段；可应用于利用温度波形监测疲劳试样中组织结构的变化,为用能量法研究疲劳提供定量的实验结果；可用于研究发生相变材料的相变行为；也可用于其它需要快速、准确测温的场合。 |
| 公开日期 | 2005-08-24 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN1657924 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/66531]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 饶光斌, 王俭秋, 韩恩厚 and 柯伟. 一种材料温度的原位精密测量方法及其在材料形变研究中的应用. 2005-08-24. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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