一种测量高速裂纹扩展的速率仪
文献类型：专利
| 作者 | 温井龙, 谭军 and 姚戈 |
| 发表日期 | 2007-01-10 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 权利人 | 中国科学院金属研究所 |
| 中文摘要 | 本实用新型属于测量材料快速断裂扩展速率用的机械领域,具体为一种测量 高速裂纹扩展的速率仪,包括桥式电路、与试验机相连的单晶片、安装于桥式电 路输出端的示波器,桥式电路由标准电阻(R2、R3、R4)和可变电阻(R1)构 成,单晶片串联在可变电阻(R1)所在的电桥上。本实用新型通过示波器记录串 联于桥式电路中的单晶片电压变化、电阻变化,通过计算得到裂纹长度和裂纹扩 展速率,从而更好地表征和测试单晶片的力学性能特性,以便研究提高单晶片及 成品的寿命和可靠性的方法。 |
| 公开日期 | 2007-01-10 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN2856998 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/66537]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 温井龙, 谭军 and 姚戈. 一种测量高速裂纹扩展的速率仪. 2007-01-10. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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