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一种纯质碳化硅过滤膜层及其制备方法

文献类型:专利

作者张劲松, 田冲, 曹小明 and 杨振明
发表日期2012-09-12
专利国别中国
专利类型发明专利
权利人中国科学院金属研究所
中文摘要本发明属于多孔陶瓷材料及其制备技术领域,具体为一种纯质碳化硅过滤膜层及其制备方法,该种纯质碳化硅过滤膜层具有高通孔隙率、低压降、强度高、抗热冲击性能好、使用温度高的特点,制备方法易于实现,能够保证产品性能。纯质碳化硅过滤膜层的组成为纯质SiC,表面膜层由细颗粒碳化硅堆积结合而成,孔径0.1~20μm,膜层孔隙率在25~50%之间。采用细碳化硅颗粒、硅粉、造孔剂添加剂及有机树脂配制膜层原料,采用喷涂或浸渍方法表面制备膜层,经干燥后,烧结得到纯质碳化硅膜层。本发明可在氧化气氛下使用,也可以在还原气氛下使用,耐酸、碱腐蚀性能强,可用于煤气化化工及IGCC、PFBC煤气化发电、高温烟气、汽车尾气、水净...
公开日期2012-09-12
语种中文
专利申请号CN102659447A
源URL[http://210.72.142.130/handle/321006/66582]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张劲松, 田冲, 曹小明 and 杨振明. 一种纯质碳化硅过滤膜层及其制备方法. 2012-09-12.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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