一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性测试系统及测试方法
文献类型：专利
| 作者 | 张广平, 徐进, 张滨 and 宋竹满 |
| 发表日期 | 2012-02-29 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院金属研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及对低维导电材料的疲劳性能测试系统和测试方法的建立,具体为一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性的测试系统和测试方法,解决现有技术中存在的对导电薄膜材料疲劳寿命测量误差大、无法准确测量裂纹的萌生寿命等问题。该测试系统由电磁驱动部分、疲劳加载与测量部分以及检测与记录部分组成,该系统提供了对各种材料进行动态弯曲疲劳性能测试的功能和测试方法,同时可以对被测试样电阻变化进行实时监测与分析记录。通过记录下的电阻可以准确的得到被测导电试样疲劳寿命、裂纹萌生与扩展寿命等信息。该系统可以同时对多个被测导电试样进行疲劳性能实验,并可同时对每个被测导电试样的电阻值进行实时记录与分析,实验操作简单快捷。 |
| 公开日期 | 2012-02-29 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN102364325A |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/66676]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张广平, 徐进, 张滨 and 宋竹满. 一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性测试系统及测试方法. 2012-02-29. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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