一种微小试样的疲劳性能测试方法及实现装置
文献类型：专利
| 作者 | 曾秋莲, 崔学顺, 郭建军, 闵家源, 王中光 and 尚建库 |
| 发表日期 | 2007-05-16 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院金属研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及一种疲劳测试技术,具体地说是公开一种微小试样疲劳性 能测试方法及实现装置。采用通电激磁线圈产生的磁场对微小试样进行力 的加载,具体是：将微小试样一端固定,另一端呈自由状态置于磁场中, 通电激磁线圈,使微小试样附近产生磁场,通过所述磁场对微小试样进行 力的加载,从而测试疲劳性能。采用本发明,加载力的大小通过调节 电压和频率来控制,可以小至1mN(0.1g力),甚至更小；实验频率可以任 意调节。与此同时,还可以在微小试样上通直流电流,可以实现对微小试 样力、电的同时加载,可以方便而有效地对微小试样的介观行为进行研究, 这时试... |
| 公开日期 | 2007-05-16 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN1963445 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/67606]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曾秋莲, 崔学顺, 郭建军, 闵家源, 王中光 and 尚建库. 一种微小试样的疲劳性能测试方法及实现装置. 2007-05-16. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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